HIRSCHMANN 2A 2毫米MICRO-KLEPS微型鉗式測試探針,適用極細電線與高密度IC檢測。旋轉鉗口設計,測量精準。
HIRSCHMANN TEST AND MEASUREMENT 2A 2毫米 MICRO-KLEPS 微型鉗式測試探針,專為精密測量而設計,適合極細電線和高密度接觸點(1.27毫米 IC間距)。探針的絕緣軸可彎曲達35º,使用靈活方便。採用SMD技術,配備旋轉鉗口,確保穩固連接。此產品連接兼容MKL...和MAL...系列接口。
產品特點
適用場景
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