HIRSCHMANN TEST AND MEASUREMENT - 2A 2毫米 MICRO-KLEPS 微型鉗式測試探針 - 黑色
$187.95
產品編號: C3-IN07031
HIRSCHMANN 2A 2毫米MICRO-KLEPS微型鉗式測試探針，適用極細電線與高密度IC檢測。旋轉鉗口設計，測量精準。
HIRSCHMANN精密工具電子測量測試探針鉗式探針MICRO-KLEPS
HIRSCHMANN TEST AND MEASUREMENT 2A 2毫米 MICRO-KLEPS 微型鉗式測試探針，專為精密測量而設計，適合極細電線和高密度接觸點（1.27毫米 IC間距）。探針的絕緣軸可彎曲達35º，使用靈活方便。採用SMD技術，配備旋轉鉗口，確保穩固連接。此產品連接兼容MKL...和MAL...系列接口。
產品特點
- 0.64毫米系統
- 鉗式測試探針
- 額定電壓：30 VAC / 60 VDC（適用於-5°C至+40°C正常環境條件）
- 測量類別：O（3）（不適用於直接連接主電路的其他電路）
- 額定電流：2A（適用於-5°C至+40°C正常環境條件）
- 外殼材質：PBT
- 工作溫度範圍：-25°C至+100°C
- 接觸材料：鉗口為彈簧鋼，針腳為黃銅
- 接觸表面材料：鉗口鍍錫，針腳鍍金
- 外殼基本材料：UL 94 HB
- 連接器類型：測試探針
- 連接器尖端樣式：鉗口
- 總長度：53.8毫米
- 產品系列：MICRO-KLEPS
適用場景
- 適用於極細電線的測量
- 適合高密度IC接觸點（間距1.27毫米）
- 電子測試與測量
- 電路板檢測
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- 系統尺寸：0.64毫米
- 類型：鉗式測試探針
- 額定電壓：30 VAC / 60 VDC（-5°C至+40°C）
- 測量類別：O（3）（不適用於主電路）
- 額定電流：2A（-5°C至+40°C）
- 外殼材質：PBT
- 工作溫度範圍：-25°C至+100°C
- 接觸材料：鉗口彈簧鋼，針腳黃銅
- 接觸表面材料：鉗口鍍錫，針腳鍍金
- 外殼安全等級：UL 94 HB
- 連接器類型：測試探針
- 連接器尖端樣式：鉗口
- 總長度：53.8毫米
- 產品系列：MICRO-KLEPS
- 重量：900克
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