HIRSCHMANN 1A マイクロSMDテストクリップ 黒色 金メッキ仕様
HIRSCHMANN製 金メッキ1AマイクロSMDテストクリップ。電子基板デバッグや微細コンポーネントテストに最適な精密工具。
HIRSCHMANN 1A マイクロSMDテストクリップは、表面実装デバイス(SMD)コンポーネントのテストを容易かつ正確に行える精密工具です。スプリング式の2極設計により信頼性の高い接触を保証し、金メッキ加工された硬化先端は優れた導電性と耐久性を提供します。
このテストクリップは、個々のコンポーネントを確実に保持するためのフラットノーズグリップと、細いワイヤーを掴むためのノッチを備えており、さまざまな用途に対応可能です。バランスの取れたスプリング力により、繊細な部品を傷つけることなく大小さまざまなコンポーネントのテストが可能です。
主要特徴
- 金メッキ先端: 正確な測定のための最適な導電性を確保
- 電気絶縁スプリング: テスト時の安全性を提供
- フラットノーズグリップ: SMDコンポーネントを確実に保持
- 細線用ノッチ: 微細なワイヤーテストに対応
電気仕様
- 定格電圧: 30VAC/60VDC (通常環境条件 -5°C～+40°C)
- 定格電流: 1A
- 測定カテゴリ: O (定格測定カテゴリなし、電源に直接接続されない回路用)
物理仕様
- 筐体材質: PBT (高強度・耐熱プラスチック)
- ピン径: 0.64mm
- 最大ジョー開口幅: 8mm
- 絶縁体カラー: 黒
電子機器のテストや測定におけるプロフェッショナル用途からホビー用途まで、様々なテスト環境で精密さと信頼性を保証するテストクリップです。
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- アメリカ合衆国への配送: 3-5営業日*
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- SMDコンポーネントテスト
- 電子基板のデバッグ
- 微細ワイヤーのテスト
- 電子機器の修理・保守
- 先端仕様: 金メッキ硬化
- 設計: スプリング式2極
- グリップタイプ: フラットノーズ
- 追加機能: 細線用ノッチ
- 定格電圧: 30VAC/60VDC
- 定格電流: 1A
- 測定カテゴリ: O
- 筐体材質: PBT(耐熱プラスチック)
- ピン径: 0.64mm
- 最大ジョー開口幅: 8mm
- 絶縁体色: 黒
- 重量: 900g
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