
HIRSCHMANNの2A 2mmミクロクレプス テストプローブは、SMD技術や電子回路テストに最適で、高密度接続や細いワイヤーにも対応します。
HIRSCHMANN TEST AND MEASUREMENT 2A 2mm ミクロクレプス テストプローブは、SMD技術における繊細なテスト用途に適した精密な小型クランプタイプのプローブです。回転可能なグリップジョーと絶縁性のあるシャフト(最大35°まで曲げ可能)により、非常に細いワイヤーや高密度に配置された接続ポイント(1.27mm IC間隔ピッチ)との確実な接続が可能です。このため、一般的なプローブでは大きすぎる複雑な電子作業に最適です。
このプローブはPBTハウジング材質を使用しており、耐久性と電気絶縁性を確保しています。定格電流2Aおよび定格電圧30VAC/60VDCに対応しており、通常の環境条件(-5°Cから+40°C)でさまざまなテストシナリオに適しています。金メッキピンとスズコートグリップジョーにより確実な導通性を提供し、UL 94 HB認証のハウジングにより安全性をさらに高めています。
このプローブはミクロクレプス製品ラインの一部であり、MKLおよびMALシリーズコネクタとの互換性を確保し、測定セットアップへのシームレスな統合を実現します。
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